XRD冷热台
用于配合XRD或大型同步光源使用。
技术参数
产品特点
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型号 | TES120E-XRD | TT1300E-XRD |
制冷方式 | 半导体 | 无 |
温度范围 | -40℃到120℃ | RT到1300℃ |
温度分辨率 | 0.1℃ | |
控温精度 | ±0.1℃ | |
最大加热速率 | 50℃/min | 100℃/min |
最大冷却速率 | -40℃/min | 自然冷却 |
样品台大小 | 35*35mm | 20*22mm |
外观尺寸 | 120*140*42mm | 180*140*60mm |
腔体净重 | 1kg | 2kg |
真空度 | 气氛保护 | |
控温精准稳定:宽温域可调(依型号-190℃~1200℃),高精度测温,恒温波动小,带多重温保护,升降温速率可调。
衍射兼容性佳:超薄窗口设计,X射线透过性好,背景噪声低,不干扰光路,保障衍射图谱质量。
原位动态测试:支持恒温、程序升降温、冷热循环,可实时追踪样品晶体结构随温度的动态演变。
通用便捷:适配主流XRD品牌,样品形态兼容广,拆装简便,无需复杂改装仪器。
安全易操作:多重安全保护,配套专用
,模块化设计,维护简单,适配科研与工业检测。
可选环境调控:可搭配真空、惰性气氛模块,避免样品氧化、结霜等干扰。














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