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XRD冷热台

用于配合XRD或大型同步光源使用。
技术参数 产品特点 资料下载

型号

TES120E-XRD

TT1300E-XRD

制冷方式

半导体

温度范围

-40℃到120℃

RT到1300℃

温度分辨率

0.1℃

控温精度

±0.1℃

最大加热速率

50℃/min

100℃/min

最大冷却速率

-40℃/min

自然冷却

样品台大小

35*35mm

20*22mm

外观尺寸

120*140*42mm

180*140*60mm

腔体净重

1kg

2kg

真空度

气氛保护

控温精准稳定:宽温域可调(依型号-190℃~1200℃),高精度测温,恒温波动小,带多重温保护,升降温速率可调。
衍射兼容性佳:超薄窗口设计,X射线透过性好,背景噪声低,不干扰光路,保障衍射图谱质量。
原位动态测试:支持恒温、程序升降温、冷热循环,可实时追踪样品晶体结构随温度的动态演变。
通用便捷:适配主流XRD品牌,样品形态兼容广,拆装简便,无需复杂改装仪器。
安全易操作:多重安全保护,配套专用 ,模块化设计,维护简单,适配科研与工业检测。
可选环境调控:可搭配真空、惰性气氛模块,避免样品氧化、结霜等干扰。

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