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型号
TES120N1-GE
TES120N2-GE
制冷方式
半导体
温度范围
-10℃到120℃
-40℃到120℃
温度分辨率
0.1℃
控温精度
±0.1℃
最大加热速率
20℃/min
最大冷却速率
-20℃/min
样品台材质
铝合金
样品台大小
100*100mm
50*100mm
通光孔直径
Φ6mm
外观尺寸
140*100*19mm
220*220*92mm
腔体净重
0.5kg
0.4kg
备注
5℃下结露,0℃下结霜
配套
A2704(聚四氟乙烯样品皿)
结构简单,使用简单,变温速度快
请留下您的联系方式,以便我们更好的为您服务。
参考案例
产品配件
高低温热电参数测试系统(TMS)
变温电阻率测试系统(RMS)
高低温霍尔效应测试系统(HMS)